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    絕緣電阻劣化離子遷移評估系統/電路板測試配之以高溫高濕試驗箱聯動,可高精度連續監測,高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。適用標準:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
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    更新時間:2023-06-29

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    面對電子產品越來越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評估系統/PCB測試配之以高溫高濕試驗箱聯動,可連續監測,簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
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